基于小波变换的集成电路内部缺陷检测方法

马鸽, 廖沛鑫, 李致富, 刘贵云, 陈海荣

Internal defect detection method for integrated circuit based on Wavelet transform

MA Ge, LIAO Pei-xin, LI Zhi-fu, LIU Gui-yun, CHEN Hai-rong

广州大学学报（自然科学版） . 2018, (6): 35 -40 .